При фотографической регистрации эмиссионного спектра качественный анализ, позволяющий выяснить, из каких именно элементов (металлов) состоит проба, проводится сравнением эмиссионных спектров неизвестных образцов со спектрами, помещенными в атласы спектральных линий (атласы спектров) [3,7,8].[ ...]
Неизвестная проба анализируется в стандартных условиях, а ее спектр фотографируется вместе со спектром железа, линии которого хорошо известны и служат «для привязки» искомого спектра пробы на основе реперных линий — линий эмиссионного спектра железа. Полученный спектр сравнивают со спектрами элементов (металлов) в атласе и по совпадению наиболее характерных линий в обоих спектрах делают вывод о принадлежности искомого спектра определенному элементу. Это наиболее трудный этап спектрального анализа, и от надежности качественного анализа (идентификации целевых компонентов пробы) зависит успех всего анализа в целом.[ ...]
В случае фотоэлектрической регистрации спектра (при работе на квантометрах, ИСП-спектрометрах и др.) в спектрах образцов сравнения (см. выше) измеряют отношение интенсивностей спектральных линий (Ь/Ь, где 1 —■ определяемый элемент, 2 — внутренний стандарт), по которым и строят градуировочный график (см. формулу III.5).[ ...]
В сканирующих спектрометрах (см. рис. III.6 и Ш.7) один из детекторов излучения (например, фотодиодная матрица, см. раздел 1.3) находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой [1].[ ...]
Вернуться к оглавлению