Обычно кф определяется методом графического интегрирования. Методика аналитического расчета ф для тарелочных и стержневых изоляторов дана в [34]. Значения основных типов линейных тарелочных изоляторов (в том числе отдельно верхних и нижних поверхностей) приведены в табл. 2-2.[ ...]
Для сопоставления разных типов изоляторов и условий загрязнения в различных районах, а также изучения хода изменения загрязнения во времени можно измерять сопротивление изолятора или его части другим способом, например меггомметром или пониженным напряжением, порядка нескольких киловольт на изолятор. Точность измерения в этом случае понижается, а погрешность, вызванная неравномерностью загрязнения, будет оказывать еще большее влияние на сопоставимость результатов.[ ...]
Поверхностная плотность загрязнения. Наряду с величиной удельной поверхностной проводимости целесообразно измерять количество загрязнений и их распределение на поверхности изоляторов, а также содержание в загрязнении растворимых проводящих примесей. Раздельное измерение этих двух основных параметров слоя загрязнения дает добавочные данные для оценки работы изоляции. Содержание растворимых проводящих примесей характеризует наличие источников агрессивных веществ (например, солей) в районе прохождения трассы. Систематическое определение количества загрязнения дает картину накопления веществ на поверхности изолятора за определенный период времени.[ ...]
Количество загрязнения на поверхности изоляторов характеризуется поверхностной плотностью, т. е. весом сухого вещества, приходящегося на единицу поверхности (измеряется обычно в миллиграммах на квадратный сантиметр). Для определения поверхностной плотности естественного загрязнения производится очистка слоя со всего изолятора или с отдельных участков его поверхности. Очистка может производиться или механическим способом (жесткой волосяной щеткой, металлическим скребком) или смывом загрязнения дистиллированной водой с последующим выпариванием. Последний способ может применяться только для нецементирующихся видов загрязняющих веществ. Снимая загрязнение с отдельных поверхностей изоляторов, можно оценить неравномерность загрязнения.[ ...]
Площади поверхности основных типов линейных изоляторов 5, а также соответствующие составляющие для верхней и нижней поверхности тарелки приведены в табл. 2-2.[ ...]
Содержание ионообразующих примесей. Наиболее просто содержание в веществе растворимых проводящих примесей может быть охарактеризовано относительным весовым содержанием. Для этого из загрязняющего вещества, счищенного с поверхности изолятора, приготовляется раствор заданной концентрации в дистиллированной воде. Концентрация должна быть такой, чтобы все растворимые вещества могли раствориться (например, 2,5 или 5%). Раствор тщательно перемешивается, выдерживается около суток (время, достаточное для растворения примесей) и фильтруется. Отфильтрованный раствор выпаривается (без кипения), после чего по весу плотного остатка находится процентное содержание в веществе растворимых примесей (солесодержание).[ ...]
Поскольку различные со и, содержащиеся в поверхностном загрязнении, неодинаково влияют на проводимость поверхностного слоя, важно знать не только общее количество водорастворимых веществ в загрязнении, но и опасность солей. Оценка этого параметра может быть произведена на основании измерения удельной объемной проводимости раствора загрязнения. Для определения удельной объемной проводимости обычно используется профильтрованный раствор, приготовленный таким же образом (или тот же самый), как для измерения относительного количества растворимых примесей. Раствор помещается в специальный измерительный сосуд из изоляционного материала (стекло, органическое стекло) с металлическими электродами (медь, латунь). Измерение сопротивления раствора производится на переменном напряжении с тем, чтобы избежать поляризации. По величине сопротивления раствора и размерам сосуда вычисляется удельное объемное сопротивление раствора.[ ...]
Рисунки к данной главе:
| Удельная поверхностная проводимость слоя загрязнения с различной поверхностной плотностью содержания №0, измеренная разными методами |
 |