Поиск по сайту:


В основе количественного рентгенофлуоресцентного анализа лежит зависимость интенсивности характеристического излучения от концентрации элемента. Для выделения из спектра различных длин волн (разложения излучения на спектральные составляющие), в спектрометрах использованы вращающиеся в автоматическом режиме кристалл-анализаторы. Угловое положение кристалл-анапизатора задается компьютером в зависимости от длины волны, которую нужно выделить из спектра для анализа требуемого элемента. Выделенное излучение поступает в детектор для измерения интенсивности.

В основе количественного рентгенофлуоресцентного анализа лежит зависимость интенсивности характеристического излучения от концентрации элемента. Для выделения из спектра различных длин волн (разложения излучения на спектральные составляющие), в спектрометрах использованы вращающиеся в автоматическом режиме кристалл-анализаторы. Угловое положение кристалл-анапизатора задается компьютером в зависимости от длины волны, которую нужно выделить из спектра для анализа требуемого элемента. Выделенное излучение поступает в детектор для измерения интенсивности.

Скачать страницу

[Выходные данные]