Поиск по сайту:


В то же время импульсы тока утечки даже при одной степени загрязнения и увлажнения подвержены значительному статистическому разбросу (рис. 2-2). Поэтому наиболее правильно производить сопоставление состояния поверхности изоляторов по количеству импульсов и кривой распределения их по амплитудам. Попытки сравнивать состояние изоляторов только по амплитуде наибольшего импульса тока утечки за рассматриваемый период без учета частоты их появления являются необоснованными. Измеренная на разных объектах одна и та же величина амплитуды тока утечки может соответствовать существенно разной вероятности перекрытия изоляторов.

В то же время импульсы тока утечки даже при одной степени загрязнения и увлажнения подвержены значительному статистическому разбросу (рис. 2-2). Поэтому наиболее правильно производить сопоставление состояния поверхности изоляторов по количеству импульсов и кривой распределения их по амплитудам. Попытки сравнивать состояние изоляторов только по амплитуде наибольшего импульса тока утечки за рассматриваемый период без учета частоты их появления являются необоснованными. Измеренная на разных объектах одна и та же величина амплитуды тока утечки может соответствовать существенно разной вероятности перекрытия изоляторов.

Скачать страницу

[Выходные данные]