Критическая концентрация мицеллообразования является важнейшей характеристикой ионогенных ПАВ. При ее достижении физическое состояние растворов ПАВ изменяется скачкообразно. На этом и основано большинство методов измерения ККМ в растворах поверхностно-активных веществ [12—17]. При дальнейшем повышении концентрации ПАВ в растворе резкое изменение свойств последнего наблюдается обычно еще несколько раз, что дает основание говорить о второй (и последующих) критических концентрациях мицеллообразования.
Скачать страницу
[Выходные данные]