![Спектрофотометр для хроматограмм в тонком слое сконструировал Цейс совместно с Шталем и Джорком. Детальное описание прибора читатель сможет найти в работах [60, 61 ]. Конструкцией прибора предусмотрено поглощение постоянно излучаемой энергии либо фактического излучения от вещества. Так, оценка разделенных пятен или зон на тонкослойных пластинках может быть сделана измерением проходящего или отраженного света, а в случае флуоресцирующих веществ— измерением флуоресценции, причем чем больше количество вещества в пятне, тем меньше степень отражения. С целью уменьшения помех со стороны внешних факторов на той же самой пластинке во время хроматографического опыта наряду с образцом испытывается стандартное вещество. По показаниям степени отражения строят соответствующие калибровочные кривые.](/static/pngsmall/385125454.png)
Спектрофотометр для хроматограмм в тонком слое сконструировал Цейс совместно с Шталем и Джорком. Детальное описание прибора читатель сможет найти в работах [60, 61 ]. Конструкцией прибора предусмотрено поглощение постоянно излучаемой энергии либо фактического излучения от вещества. Так, оценка разделенных пятен или зон на тонкослойных пластинках может быть сделана измерением проходящего или отраженного света, а в случае флуоресцирующих веществ— измерением флуоресценции, причем чем больше количество вещества в пятне, тем меньше степень отражения. С целью уменьшения помех со стороны внешних факторов на той же самой пластинке во время хроматографического опыта наряду с образцом испытывается стандартное вещество. По показаниям степени отражения строят соответствующие калибровочные кривые.
Скачать страницу
[Выходные данные]
![Спектрофотометр для хроматограмм в тонком слое сконструировал Цейс совместно с Шталем и Джорком. Детальное описание прибора читатель сможет найти в работах [60, 61 ]. Конструкцией прибора предусмотрено поглощение постоянно излучаемой энергии либо фактического излучения от вещества. Так, оценка разделенных пятен или зон на тонкослойных пластинках может быть сделана измерением проходящего или отраженного света, а в случае флуоресцирующих веществ— измерением флуоресценции, причем чем больше количество вещества в пятне, тем меньше степень отражения. С целью уменьшения помех со стороны внешних факторов на той же самой пластинке во время хроматографического опыта наряду с образцом испытывается стандартное вещество. По показаниям степени отражения строят соответствующие калибровочные кривые.](/static/pngbig/385125454.png)