Несколько иной подход к анализу фрагментации обычно известен как спектрометрия кинетических энергий ионов. Для проведения такого вида анализа применяют масс-спектрометр с двойной фокусировкой. При этом используют ионы Ам+, образующиеся в бесполевой области между электрическим анализатором и секторным магнитом [475]. В приборах этого типа возможно использование одного электрического сектора для анализа по энергиям. Легкость калибровки энергетической шкалы и отсутствие эффекта гистерезиса при легко контролируемом изменении поля позволяют избежать наложений сигналов нормальных ионов. Использование прибора с двойной фокусировкой делает возможным при анализе выделить какую-то определенную реакцию, индуцированную столкновениями. Располагая камеру столкновений между двумя анализаторами, получают возможность выделить какой-либо определенный ион для реакции и разделить образовавшиеся в результате столкновений ионы во втором анализаторе. Разные методы согласованного сканирования электрического и магнитного полей позволяют наблюдать продукты метастабильных или индуцированных столкновениями процессов без наложения сигналов «нормальных» ионов.
Скачать страницу
[Выходные данные]